Gleich zwei neue und budgetfreundliche Messgeräte stellt FRT auf der Control 2009 vor, die passgenau auf Aufgabenstellungen wie die optische Untersuchung von Rauheit, Kontur und 3D-Topographie sowie die Messung der Schichtdicke zugeschnitten sind: der MicroSpy Profile für die optische scannende Messung von Rauheit, Kontur, 3D-Topographie und der MicroSpy FT für die Messung von Schichtdicke.

Mit den neuen Geräten ergänzen die Experten für Oberflächenmesstechnik das erstmals 2008 vorgestellte Konfokalmikroskop MicroSpy Topo um zwei weitere Economy-Messgeräte, die sich durch hohe Wirtschaftlichkeit und zugleich optimale Leistungsdaten (z.B. Messung nach DIN und ISO) auszeichnen.

MicroSpy Messgeräte sind kompakte Single-Sensor-Systeme mit einer zusätzlichen CCD-Kamera für die komfortable Positionierung der Probe unterhalb des Messkopfes. Dies erfolgt mittels eines motorisierten Verfahrtisches in x,y-Richtung. Je nach Modell erfolgt die Annährung des Sensors an die Probe in axialer Richtung über eine manuelle Verstelleinheit mit Grob- und Feintrieb oder mit einer motorisierten z-Achse.

FRT bietet zwei Sensortechnologien für den Einsatz in den MicroSpy Geräten an. Im MicroSpy Topo kommt die flächenhaft messende konfokale Mikroskopie zum Einsatz. In den beiden neuen Geräten wird ein chromatischer Punktsensor verbaut. Die Punktsensoren werden von FRT mit unterschiedlichen Messbereichen geliefert, sodass ein breites Anwendungsspektrum auf unterschiedlichsten Oberflächen abgedeckt wird.

Um mehr über die Geräte der MicroSpy Serie zu erfahren und den neuen MicroSpy Profile live in Aktion zu erleben, besuchen Sie FRT auf der Control in Halle 7, Stand 7232!

Quelle: Fries Research & Technology GmbH – das Maß für Präzision.